LUNA公司的OBR4600是光纤背光反射计系列产品之一。用于光器件/模块和短距离光网络的测试和故障排除。OBR4600超高空间分辨率基于瑞利背向散射,空间分辨率10微米,零死区,能够集成温度和应变测...
LWA7601-C光器件分析仪
LWA7000系列是美国LUNA公司最新产品,是Luna6415的优化升级替代款,在整体性能上更上一个台阶。是光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具,得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。...
光矢量分析仪OVA5100
LUNA公司的OVA5100是快速,准确和经济的测试设备,用于现代光网络设备的损耗测试、色散测试和偏振测试等。它是理想的工具,用于单连接,光器件的全参数测试,从耦合器到特种光纤和其他诸如光纤光栅、阵列...
OBR6200便携式光路诊断仪
OBR6225是Luna公司的一款新产品,其为便携紧凑型。具有超高空间分辨率、背向散射级的灵敏度,用于测试部署在航空航天、海军、数据中心和工业应用中的光纤网络。OBR6225采用光频域反射技术(OFD...
6415光器件分析仪
LUNA6415作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具,得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。LUNA6415还具备单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试,...
扰偏仪 PCD-104
扰偏仪PCD-104使用了全光纤技术,能够有效地打乱偏振态。扰偏仪实现的消偏具有多种重要应用。对输入光进行扰偏可以消除测试中由于仪器的偏振敏感性带来的测量不准确性,及由于偏振相关增益(PDG)引起的系...
偏振相关损耗测量仪 PDL-201
General Photonics公司的PDL/IL测试仪(PDL-201)采用最大值/最小值搜寻法(符合TIA/EIA-455-198标准),能够对器件的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)、光...
全波段消光比测试仪:ERM-202
ERM-202是一款单通道和双通道可选的消光比测量仪,可实现1260~1650nm全波段测量。可用于双路输出保偏器件的消光比和功率比测量,例如: Y分支光纤陀螺IOC,保偏耦合器(PMC),偏振分束器...
偏振度测试仪:DOP-201
DOP-201采用专利最大最小搜索技术,实时测量和显示光源的偏振度(DOP),具有高精度和较宽的动态范围。基于偏振器的系统非常昂贵,且对于较低偏振度的光源也不准确;同时,对于偏振度高的光源,扰偏器件的...